Consolidated

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

Apr 2002 Ersetzt

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Zusammenfassung

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Produktspezifikationen

Consolidated von IEC
Ausgabedatum: 10. April 2002
Rückzugsdatum: 21. Mai 2004
Edition: 2.2
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831860806

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Revidiert: IEC 60749:1984 ED1

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

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