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Consolidated

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

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Zusammenfassung

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Produktspezifikationen

  • Consolidated von IEC
  • Ausgabedatum:
  • Rückzugsdatum:
  • Edition: 2.2
  • Dokumenttyp: IS
  • Seiten
  • Herausgeber: IEC
  • Lieferant: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Produktlebenszyklus