IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

Apr 2002 Zurückgezogen

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Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

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Sprache Englisch/Französisch

Format Online + PDF CHF 725,00 Online CHF 621,00

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Zusammenfassung

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Produktspezifikationen

Consolidated von IEC
Ausgabedatum: 10. April 2002
Rückzugsdatum: 21. Mai 2004
Edition: 2.2
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN:

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

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