Standard

IEC 60749-18:2002 ED1

Dez 2002 Revidiert

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Sprache Englisch/Französisch

Format Online + PDF CHF 84,00 Online CHF 72,00

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Zusammenfassung

Provides a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 gamma ray source. Proposes an accelerated annealing test for estimating low dose rate ionizing radiation effects on devices. This annealing test is important for low dose rate or certain other applications in which devices may exhibit significant time-dependent effects. It is intended for military- and space-related applications.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 13. Dezember 2002
Rückzugsdatum: 10. April 2019
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831867436

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 60749-18:2019 ED2
Revidiert durch: IEC 60749-18:2019 RLV

IEC 60749-18:2002 ED1

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