Standard

IEC 60749-13:2002 ED1

Apr 2002 Revidiert

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Hinweis: Neuste Ausgabe: IEC 60749-13:2018 ED2

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Sprache Englisch/Französisch

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Revidiert IEC 60749-13:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum von Ausgabedatum: Aug 2003 Sprache: Englisch/Französisch Format: Online, Online + PDF

Zusammenfassung

Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Produktspezifikationen

Standard von IEC
Ausgabedatum: 12. April 2002
Rückzugsdatum: 15. Februar 2018
Edition: 1
Dokumenttyp: IS
Seiten
ISBN: 2831862787

Herausgeber: IEC
Lieferant: IEC
ICS: 31.080.01
Internationales Komitee: TC 47

Produktbeziehungen

Revidiert durch: IEC 60749-13:2018 ED2
Ersetzt: IEC PAS 62183:2000 ED1
Ersetzt teilweise: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-13:2002 ED1

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